Характеризация элементов микросхем

Задача характеризации элементов микросхем заключается в получении зависимостей функциональных параметров библиотечного элемента или блока от длительности фронтов сигналов на входе и от величины нагрузочных емкостей для заданных наборов этих величин. В коммерческих системах характеризации (SiliconSmart [1], Virtuoso Liberate Characterization Solution [2], Virtuoso Variety Statistical Characterization Solution [3], Virtuoso Liberate MX Memory Characterization Solution [4], Kronos Characterizer Plus [5]) такие зависимости строятся на основе многократного электрического моделирования в Hspice [6], Spectre [7] и подобных программах схемотехнического моделирования. В случае характеризации СФ-блоков, как правило, используются программы быстрого схемотехнического моделирования (NanoSim [8], Ultrasim [9] и т.д.) для обработки большого объема данных.

В дальнейшем результаты характеризации библиотечных элементов и СФ-блоков могут быть использованы в программах временного анализа, анализа потребляемой мощности и анализа шумов.

Источник: Википедия

а б в г д е ё ж з и й к л м н о п р с т у ф х ц ч ш щ э ю я