Патентные ландшафты: разработка и использование для анализа технологических трендов

Л. М. Гохберг (2024)

Издание содержит подробные рекомендации по формированию патентного ландшафта — проведению анализа патентных документов и научно-технической информации в целях изучения состояния, трендов и перспектив развития технологических областей или отдельных технологий. Последовательно рассматриваются основные понятия патентного анализа и источники данных для него, исследовательские методы и аналитические представления, используемые в патентных ландшафтах, алгоритм их построения и особенности применения. Методологические и практические рекомендации сопровождаются примерами по результатам анализа патентной активности в различных технологических областях. Публикация имеет прикладной характер и рассчитана на широкий круг читателей: аналитиков, менеджеров, деятельность которых связана с управлением исследованиями и разработками, ученых, преподавателей высшей школы, аспирантов и других лиц, интересующихся развитием и оценкой технологий.

Рецензенты:

доктор экономических наук, профессор А. В. Березной;

кандидат физико-математических наук В. С. Салун

© Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики», 2024

При перепечатке ссылка обязательна

* * *

Аббревиатуры

ВОИС — Всемирная организация интеллектуальной собственности (World Intellectual Property Organization, WIPO)

ГК РФ — Гражданский кодекс Российской Федерации (в ред. Федерального закона от 24 июля 2023 г. № 351-ФЗ)

ЕАПО — Евразийская патентная организация (Eurasian Patent Office, EAPO)

ЕПВ — Европейское патентное ведомство (European Patent Office, EPO)

ЕС — Европейский союз

ИКТ — информационно-коммуникационные технологии

ИСИЭЗ — Институт статистических исследований и экономики знаний НИУ ВШЭ

МПК — Международная патентная классификация (International Patent Classification, IPC)

НИУ ВШЭ — Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики»

РИД — результат интеллектуальной деятельности

СНГ — Содружество Независимых Государств

СПК — Совместная патентная классификация (Cooperative Patent Classification)

ЭВМ — электронно-вычислительная машина

CNIPA — China National Intellectual Property Administration — (Китайское национальное управление интеллектуальной собственности)

ECLA — European Classification (внутриведомственная классификационная система Европейского патентного ведомства)

iFORA — Cистема интеллектуального анализа больших данных ИСИЭЗ НИУ ВШЭ

INID — Internationally Agreed Numbers for the Identification of Data (международный стандарт библиографических данных патентных документов, разработанный ВОИС)

IP — intellectual property (интеллектуальная собственность)

JPO — Japan Patent Office (Патентное ведомство Японии)

NISTEP — National Institute of Science and Technology Policy (Национальный институт научно-технической политики, Япония)

PCT — Patent Cooperation Treaty (Договор о патентной кооперации)

USPC — United States Patent Classification (Патентная классификация США)

USPTO — United States Patent and Trademark Office (Ведомство по патентам и товарным знакам США)